xrd基本原理：XRD即X-ray diffraction的縮寫，X射線衍射，通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態等信息的研究手段。
什麼是xrd分析
xrd分析：是X射線衍射，通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態等信息的研究手段。
X射線是原子內層電子在高速運動電子的轟擊下躍遷而產生的光輻射，主要有連續X射線和特征X射線兩種。晶體可被用作X光的光柵，這些很大數目的粒子所產生的相幹散射將會發生光的幹涉作用，從而使得散射的X射線的強度增強或減弱。由於大量粒子散射波的疊加，互相幹涉而產生最大強度的光束稱為X射線的衍射線。
XRD主要應用：X射線衍射在材料中用得最多的方面，分定性分析和定量分析。前者把對材料測得的衍射晶面間距及衍射線強度與標準物相的衍射數據相比較，確定材料中存在的物相;後者則根據衍射花樣的強度，確定材料中各相的含量;在研究性能和各相含量的關系和檢查材料的成分配比等方面都得到廣泛應用。
XRD和XRF的區別
XRF檢測的是元素組成及含量，而XRD則反映的是化合物的結構情況，因而兩者的應用場合也有著本質的區別。具體如下：
1，用途不同。
XRD是x射線衍射光譜，(X-ray diffraction analysis)是用於測定晶體的結構的，而XRF是x射線熒光發射譜，(X-ray fluorescence analysis)主要用於元素的定性、定量分析的，一般測定原子序數小於Na的元素，定量測定的濃度范圍是常量、微量、痕量。
2，原理上的差別。
XRD是以X射線的相幹散射為基礎，以佈拉格公式2d sinθ=nλ、晶體理論、倒易點陣厄瓦爾德圖解為主要原理的;
XRF則是以莫斯萊定律(1/λ)1/2=k(Z-S)，k,S是與線性有關的常數。因此，得出不同元素具有不同的X射線(即特征線)為基礎對元素定性、定量分析的。
